特許
J-GLOBAL ID：200903098192485237

有機微量成分の検出装置

発明者：
出口 祥啓

出口 祥啓 について

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福田 憲弘

福田 憲弘 について

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土橋 晋作

土橋 晋作 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について


代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-170784
公開番号（公開出願番号）：特開2002-367559
出願日： 2001年06月06日
公開日（公表日）： 2002年12月20日
要約：
【要約】【課題】 迅速且つ高感度な分析が可能な有機微量成分の検出装置及び方法を提供することを課題とする。【解決手段】 採取試料51を連続的に洩れだし分子線53として導入する試料導入手段であるキャピラリカラム54と、洩れだし分子線53にレーザ光55を照射し、レーザイオン化させるレーザ照射手段66と、イオン化した分子を収束させる複数のイオン電極56-1〜3からなるイオン収束部56と、収束された分子を選択濃縮するイオントラップ57と、一定周期で放出されたイオンをリフレクトロン58で反射させ、反射イオンを検出するイオン検出器59を備えた飛行時間型質量分析装置60とを具備し、イオントラップ57を構成する第1エンドキャップ電極61の電圧はイオン化した分子を収束させる上記イオン収束部56の電圧よりも低くし、イオン化した分子を第1エンドキャップ電極61に向かって加速させ、イオントラップ57の空間内に効率的に引き込む。
請求項（抜粋）：
採取試料を真空チャンバー内へ連続的に導入する試料導入手段と、導入された試料をイオン化させるイオン化手段と、該イオン化した分子を収束させるイオン収束部と、該収束された分子を選択濃縮する高周波電極を備えたイオントラップと、一定周期で放出されたイオンを検出するイオン検出器を備えた飛行時間型質量分析装置とを具備してなる有機微量成分の検出装置において、上記イオントラップが、相対向してなると共に上記イオン化した分子を取り込む細孔を有する第1エンドキャップ電極及び上記トラップされたイオン分子が射出される細孔を有する第2エンドキャップ電極と、イオントラップ領域内に高周波電場を印加する高周波電極とから構成され、且つ第1エンドキャップ電極の電圧が、イオン化した分子を収束させる上記イオン収束部の電圧よりも低く、第2エンドキャップ電極の電圧が上記第1エンドキャップ電極の電圧よりも高くしてなり、上記イオン化した分子を選択的にイオントラップ内で減速しつつ、上記高周波電圧を印加して捕捉しなることを特徴とする有機微量成分の検出装置。
IPC (6件)：
H01J 49/40 ZAB ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/42 ,  G01N 33/00
FI (7件)：
H01J 49/40 ZAB ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 V ,  G01N 27/64 B ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/42 ,  G01N 33/00 B
Fターム (8件)：
5C038GG07 ,  5C038GH08 ,  5C038GH11 ,  5C038GH13 ,  5C038GH15 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07
引用特許：
審査官引用 (3件)

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