特許

J-GLOBAL ID：200903098280504810

異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置

発明者： 山崎 正英 ,  山崎 健史 ,  永塚 一毅 ,  八木 将博
出願人/特許権者： アンリツ産機システム株式会社
代理人 (1件)： 早川 誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-250653
公開番号（公開出願番号）：特開2006-064662
出願日： 2004年08月30日
公開日（公表日）： 2006年03月09日
要約：

【課題】 缶詰の被検査物に混入した異物を確実に検出できる異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置を提供する。【解決手段】 缶詰の被検査物を透過したX線画像を処理して前記被検査物内の混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、前記X線画像から周縁部及び周縁部に隣接した異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成段階(S3)と、前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第1の異物抽出段階(S4)と、前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第2の異物抽出段階(S5)と、抽出された前記孤立した異物と前記周縁部に隣接した異物を合成して出力する異物合成出力段階(S6)とから構成されている。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

缶詰の被検査物を透過したX線画像を処理して前記被検査物内の混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、 前記X線画像から周縁部及び周縁部に隣接した異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成段階(S3)と、 前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第1の異物抽出段階(S4)と、 前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第2の異物抽出段階(S5)と、 抽出された前記孤立した異物と前記周縁部に隣接した異物を合成して出力する異物合成出力段階(S6)とから構成されていることを特徴とする異物検出方法。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G01N23/04 ,  G06T1/00 280

Fターム (37件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA08 ,  2G001FA16 ,  2G001FA29 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA05 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  5B057BA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE06 ,  5B057CE12 ,  5B057CF03 ,  5B057DA02 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC14 ,  5B057DC23

引用特許：

出願人引用 (3件)

• W098/11456号公報
  
• 画像処理による異物検出方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-123260   出願人：アンリツ株式会社
• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-097162   出願人：株式会社島津製作所, 株式会社キリンテクノシステム