特許
J-GLOBAL ID:200903098335388025
チップ型電子部品の極性検査方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
岩橋 文雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-375613
公開番号(公開出願番号):特開2003-121369
出願日: 2001年12月10日
公開日(公表日): 2003年04月23日
要約:
【要約】【課題】 帯状の搬送部材の部品収納部に収納した状態の有極性のチップ型電子部品の極性検査を確実にしてかつ高速に実行できるチップ型電子部品の極性検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 有極性のチップ型電子部品8を帯状の搬送部材1の部品収納部2a〜2e内の所定位置に保持することにより、そのチップ型電子部品8の保持位置を画像認識することにより特定するようにした。
請求項(抜粋):
帯状の搬送部材の部品収納部に収納した有極性のチップ型電子部品を、前記部品収納部内の所定位置に保持し、前記所定位置に保持した前記チップ型電子部品の保持位置を、前記チップ型電子部品の一部の外形を画像認識することにより特定し、その特定した前記保持位置に基づき、極性を示す極性表示部を所定の表示位置に有する前記チップ型電子部品の前記極性表示部が、所定の表示位置にあるか否かを画像認識により判定して前記チップ型電子部品の極性判別を行うチップ型電子部品の極性検査方法。
IPC (5件):
G01N 21/84
, B65B 35/56
, B65D 85/86
, G01R 31/00
, G01R 31/26
FI (5件):
G01N 21/84 Z
, B65B 35/56
, G01R 31/00
, G01R 31/26 Z
, B65D 85/38 N
Fターム (32件):
2G003AA00
, 2G003AB17
, 2G003AG11
, 2G003AG16
, 2G003AH01
, 2G003AH04
, 2G003AH05
, 2G036AA28
, 2G036BB02
, 2G036CA01
, 2G036CA03
, 2G036CA06
, 2G036CA08
, 2G051AA61
, 2G051AB20
, 2G051CA04
, 2G051CB02
, 2G051DA06
, 3E054AA04
, 3E054AA12
, 3E054EA01
, 3E054FA04
, 3E054FA06
, 3E054FC19
, 3E054GA01
, 3E054GB05
, 3E054GB10
, 3E096AA05
, 3E096BA09
, 3E096BB08
, 3E096CA13
, 3E096FA12
引用特許:
審査官引用 (8件)
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特開昭63-017541
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特開平4-244905
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特開平3-169038
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部品供給装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-176385
出願人:松下電器産業株式会社
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チップ状電子部品供給装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-067943
出願人:株式会社村田製作所
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特開昭63-017541
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特開平4-244905
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特開平3-169038
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