特許

J-GLOBAL ID：200903098396228950

未知の物質の分析方法

発明者： シェンク ジョン エス. ,  ウェスタハウス マーク オー.
出願人/特許権者： インフラソフト インターナショナル エルエルシー
代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-532135
公開番号（公開出願番号）：特表2001-525054
出願日： 1998年01月23日
公開日（公表日）： 2001年12月04日
要約：

【要約】近赤外分析により物質を分析するシステムにおいて、標本物質の吸収スペクトルのライブラリがコンピュータに記憶される。未知の物質のスペクトルに最も良く合致するライブラリスペクトルを選定するために、未知の物質の吸収スペクトルが測定され、ライブラリスペクトルと相関付けされる。選定されたライブラリスペクトルを用い、最小自乗回帰法、あるいは、多重回帰法により、未知の物質についてなされた吸収度に未知の物質の測定できる性質を相関付ける方程式の係数を決定する。

請求項（抜粋）：

測定し得る特性の値が知られている多数の標本物質の反射率若しくは透過率 から得られた多数のスペクトルのライブラリを記憶し、 未知の物質の透過率若しくは反射率から得られる標的スペクトルを測定し、 前記標的スペクトルに最も良く合致する前記多数のスペクトルの部分集合を 選定し、 前記測定し得る特性を標的スペクトルの値に関係付ける少なくとも一つの方 程式の、前記スペクトルの部分集合と、前記部分集合の前記スペクトルのそ れぞれに対応する前記標本物質の前記測定し得る特性値の既知の値とから求 められる係数を求め、 そして、 前記方程式に則って、前記係数と前記標的スペクトルから前記未知の物質の 前記測定し得る特性を計算する、 ことを特徴とする少なくとも一つの前記測定し得る特性を測定する未知の物 質の分析方法。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/35

FI (2件)：

G01N 21/27 F ,  G01N 21/35 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 多成分物質定量分析法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-168856   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平2-249952
  
• 非線形多変量赤外解析法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平8-519224   出願人：エクソンリサーチアンドエンジニアリングカンパニー