特許
J-GLOBAL ID：200903098465655378
フィルムコンデンサの劣化診断装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
猪股 祥晃
, 菊池 治
, 猪股 弘子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-194873
公開番号（公開出願番号）：特開2004-037258
出願日： 2002年07月03日
公開日（公表日）： 2004年02月05日
要約：
【課題】フィルムコンデンサの電気的特性とその表面温度を計測し、この計測データからフィルムコンデンサの劣化を診断するフィルムコンデンサ劣化診断装置を提供する。【解決手段】フィルムコンデンサの劣化診断装置は、フィルムコンデンサの電気的特性値を計測する第1計測手段と、前記コンデンサの表面温度を計測する第2計測手段と、これら計測手段で計測された特性値データをデータベースに蓄積する蓄積手段と、フィルムコンデンサの基準特性曲線及び劣化判定値を予め蓄積したデータベースとを備え、前記計測手段で計測された特性値データと前記データベースの基準特性曲線及び劣化判定値を比較して当該フィルムコンデンサの劣化判定及び寿命予測を診断するので、フィルムコンデンサの劣化進展状況の把握が容易にできる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
フィルムコンデンサの電気的特性値を計測する第1計測手段と、前記コンデンサの表面温度を計測する第2計測手段と、これら計測手段で計測された特性値データをデータベースに蓄積する蓄積手段と、フィルムコンデンサの基準特性曲線及び劣化判定値を予め蓄積したデータベースとを備え、前記計測手段で計測された特性値データと前記データベースの基準特性曲線及び劣化判定値を比較して当該フィルムコンデンサの劣化判定及び寿命予測を診断することを特徴とするフィルムコンデンサの劣化診断装置。
IPC (4件)：
G01R31/00
, G01R27/02
, G01R27/26
, H01G13/00
G01R31/00
, G01R27/02 A
, G01R27/02 R
, G01R27/26 C
, G01R27/26 T
, H01G13/00 361D
2G028AA01
, 2G028AA02
, 2G028BB06
, 2G028CG03
, 2G028CG07
, 2G028CG08
, 2G028CG10
, 2G028DH03
, 2G028DH05
, 2G028DH11
, 2G028DH14
, 2G028DH21
, 2G028FK07
, 2G028FK08
, 2G028LR02
, 2G028LR08
, 2G036AA03
, 2G036AA04
, 2G036AA20
, 2G036AA24
, 2G036BB02
, 2G036CA08
, 5E082BB07
, 5E082BC14
, 5E082MM32
, 5E082MM35
