特許
J-GLOBAL ID：200903098961394231

光断層画像化装置、接触領域検出方法及びそれを用いた画像処理方法

発明者：
小澤 聡

小澤 聡 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について

, 
フジノン株式会社

フジノン株式会社 について


代理人 (2件)： 渡辺 望稔 ,  三和 晴子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-242379
公開番号（公開出願番号）：特開2009-072280
出願日： 2007年09月19日
公開日（公表日）： 2009年04月09日
要約：
【課題】効率よくかつ簡単に分解能の高い断層画像を作製することができる光断層画像化装置を提供すること【解決手段】光源と、光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、測定光を伝達する光ファイバ、光ファイバの先端部に配置され、測定対象に光を照射し、その反射光を取得する測定部、光ファイバ及び測定部の外周を覆い、測定部から光が射出される領域は透明な材料で形成されている外筒を備える光プローブと、記測定部及び前記光ファイバを回転させる駆動部と、測定部で検出された反射光と、参照光を合波して干渉光を生成する合波部と、干渉光の干渉信号を検出する干渉光検出部と、検出した干渉信号から光プローブと測定対象との距離を算出し、距離から前記光プローブと測定対象との接触状態を検出する接触検出部と、検出した干渉信号から断層画像を取得する断層画像取得部とを有する【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源と、 前記光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、 前記測定光を伝達する光ファイバ、前記光ファイバの先端部に配置され、測定対象に光を照射し、その反射光を取得する測定部、前記光ファイバ及び測定部の外周を覆い、前記測定部から光が射出される領域は透明な材料で形成されている外筒を備える光プローブと、 前記測定部及び前記光ファイバを回転させる駆動部と、 前記測定部で検出された反射光と、前記参照光を合波して干渉光を生成する合波部と、 前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部と、 検出した前記干渉信号から前記光プローブと前記測定対象との距離を算出し、前記距離から前記光プローブと前記測定対象との接触領域を検出する接触検出部と、 検出した前記干渉信号から断層画像を取得する断層画像取得部とを有する光断層画像化装置。
IPC (3件)：
A61B 1/00 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/17
FI (3件)：
A61B1/00 300D ,  A61B10/00 E ,  G01N21/17 630
Fターム (22件)：
2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059PP04 ,  4C061CC06 ,  4C061FF40 ,  4C061FF46 ,  4C061FF47 ,  4C061HH51
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 光断層画像装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-301306   出願人：オリンパス光学工業株式会社
審査官引用 (3件)
  • 光イメージング装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-124305   出願人：オリンパス株式会社
  • 光走査プローブ装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-056887   出願人：ユニバーシティーホスピタルオブクリーブランド, オリンパス株式会社
  • 光断層画像化装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-255357   出願人：富士フイルム株式会社

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