特許
J-GLOBAL ID：200903099182514707
テーピング装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
芝野 正雅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-301256
公開番号（公開出願番号）：特開2003-110282
出願日： 2001年09月28日
公開日（公表日）： 2003年04月11日
要約：
【要約】 (修正有) 検査機構により不良とされても、自動的にリカバリーができるようにすること。【解決手段】 収納溝3B内に挿入された状態の部品30をマーク認識カメラ33で撮像し、当該部品30に付された機種番号等のマークを認識すると共に該部品30に検査部34のプローブ針を接触させて電気特性等を検査する。前記マークの認識処理結果又は検査部34の検査が不良の場合には、他の収納溝3Bに部品30を挿入し終えた吸着装填ノズル22を前記不良部品30の上方に移動させて取出す。そして、回転盤20を90度逆転させて、認識ステーションに不良部品30を搬送して、部品認識カメラ6が撮像し姿勢を認識し、その後180度正転させて該回転盤20のXY方向の補正移動及びノズル22のθ方向の補正移動によりトレイ36の所定位置に載置させて回収する。取出された空の収納溝3B内に、次のノズル22に吸着されている良品の部品30を挿入する。
請求項（抜粋）：
テープリールに巻装される収納テープ内の収納溝にチップ部品を挿入し、カバーテープで当該収納溝上面の開口部を閉塞して成るテーピング装置において、部品収納部内のチップ部品を順次取出し、前記収納テープ内の収納溝に挿入する部品挿入機構と、前記収納溝内にチップ部品が収納された収納テープを所定量搬送するテープ送り機構と、前記テープ送り機構により所定位置まで搬送されてきた収納溝内のチップ部品を検査する部品検査機構と、該部品検査機構により不良とされ、カバーテープで当該収納溝上面の開口部を閉塞する前に、前記部品挿入機構で前記収納溝から取出されたチップ部品を回収する回収装置とから成ることを特徴とするテーピング装置。
IPC (2件)：
FI (4件)：
H05K 13/02 C
, H05K 13/02 W
, B65B 15/04 B
, B65B 15/04 N
5E313AA18
, 5E313DD03
, 5E313DD08
, 5E313DD12
, 5E313FG10
