特許
J-GLOBAL ID：200903099294407245

塗装不良検査方法

発明者：
比嘉 雅文

比嘉 雅文 について

, 
三井 正信

三井 正信 について

, 
藤永 和典

藤永 和典 について


出願人/特許権者：
クボタ松下電工外装株式会社

クボタ松下電工外装株式会社 について


代理人 (2件)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-188532
公開番号（公開出願番号）：特開2009-025155
出願日： 2007年07月19日
公開日（公表日）： 2009年02月05日
要約：
【課題】紫外線吸収性のクリア塗膜の塗装不良を検出するにあたり、前記塗装不良を確実に検出することができる塗装不良検査方法を提供する。【解決手段】紫外線吸収性のクリア塗膜が形成された基材1の塗装面に向けて光源2から紫外線を照射する。前記塗装面の所定の計測領域5からの反射光の強度を計測器3によって計測する。その計測結果に基づいて、クリア塗膜が形成されていることによる反射光の強度低減の有無を判別して塗装不良を検出する。前記計測領域5が、基材1への紫外線の入射角の変化に起因するクリア塗膜が形成されている状態とクリア塗膜が形成されていない状態との間での反射光の強度の大小の逆転が生じていない計測可能領域4と重なるようにする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
紫外線吸収性のクリア塗膜が形成された基材の塗装面に向けて光源から紫外線を照射し、前記塗装面の所定の計測領域からの反射光の強度を計測器によって計測し、その計測結果に基づいて、クリア塗膜が形成されていることによる反射光の強度低減の有無を判別して塗装不良を検出する塗装不良検査方法であって、前記計測領域が、基材への紫外線の入射角の変化に起因するクリア塗膜が形成されている状態とクリア塗膜が形成されていない状態との間での反射光の強度の大小の逆転が生じていない計測可能領域と重なるようにすることを特徴とする塗装不良検査方法。
IPC (2件)：
G01N 21/892 ,  B05D 3/00
FI (2件)：
G01N21/892 Z ,  B05D3/00 D
Fターム (16件)：
2G051AA32 ,  2G051AB12 ,  2G051BA02 ,  2G051BA05 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  4D075AE03 ,  4D075BB46Z ,  4D075DB12 ,  4D075EA13 ,  4D075EA43 ,  4D075EB01 ,  4D075EB22 ,  4D075EB43 ,  4D075EC02 ,  4D075EC47
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (11件)
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