特許
J-GLOBAL ID:200903099476828610
酸化亜鉛薄膜の製造方法、それを用いた半導体素子基板及び光起電力素子
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
丸島 儀一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-045670
公開番号(公開出願番号):特開平10-195693
出願日: 1997年02月28日
公開日(公表日): 1998年07月28日
要約:
【要約】【課題】 電析による酸化亜鉛薄膜の形成を安定化し、かつ基板密着性に優れた形成方法を提供する。特に、光起電力素子の光閉じ込め層に適用するのに好適な酸化亜鉛薄膜とする。【解決手段】 少なくとも硝酸イオン、亜鉛イオン、及び炭水化物を含有してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に浸漬された電極との間に通電することにより、酸化亜鉛薄膜を前記導電性基体上に形成する。
請求項(抜粋):
少なくとも硝酸イオン、亜鉛イオン、及び炭水化物を含有してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に浸漬された電極との間に通電することにより、酸化亜鉛薄膜を前記導電性基体上に形成することを特徴とする酸化亜鉛薄膜の製造方法。
IPC (3件):
C25D 9/08
, C23C 28/00
, H01L 31/04
FI (3件):
C25D 9/08
, C23C 28/00 B
, H01L 31/04 F
引用特許: