特許
J-GLOBAL ID:200903099548687227

焼き付き現象補正方法、自発光装置及びプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 頭師 教文
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-008677
公開番号(公開出願番号):特開2006-195312
出願日: 2005年01月17日
公開日(公表日): 2006年07月27日
要約:
【課題】焼き付き現象が視認されない場合にも補正処理が原則的な補正量で実行されることで、画像の品質低下が恒常的に発生する。【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、(a)各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、(b)劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する補正量決定部と、(c)視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する視認度合い判定部と、(d)劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正量による補正処理の実行を指示し、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正量による補正処理の実行停止を指示する補正動作指示部と、(e)補正処理の実行が指示されたとき、補正量に基づいて入力信号を補正する劣化量差補正部とを有するものを提案する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、 各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、 前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、 視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、 前記劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行を指示する処理と、 前記劣化量差が閾値以下と判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行停止を指示する処理と、 補正処理の実行が指示されたとき、決定された補正量に基づいて入力信号を補正する処理と を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
IPC (2件):
G09G 3/30 ,  G09G 3/20
FI (7件):
G09G3/30 K ,  G09G3/30 J ,  G09G3/20 612U ,  G09G3/20 631U ,  G09G3/20 642C ,  G09G3/20 670J ,  G09G3/20 670K
Fターム (10件):
5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080DD29 ,  5C080EE28 ,  5C080FF09 ,  5C080GG15 ,  5C080GG16 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ05 ,  5C080JJ07
引用特許:
出願人引用 (4件)
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