特許
J-GLOBAL ID：200903099601508070

簡易粗粒率測定器

発明者：
本庄 秀樹

本庄 秀樹 について


出願人/特許権者：
日工株式会社

日工株式会社 について

, 
日工電子工業株式会社

日工電子工業株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-014881
公開番号（公開出願番号）：特開平9-210895
出願日： 1996年01月31日
公開日（公表日）： 1997年08月15日
要約：
【要約】【課題】 迅速に粒子状材料の粗粒率が測定できる測定器を提供する。【解決手段】 細い棒状体により形成した材料接触子2の所定位置を支点に回動自在とし、該材料接触子2の一端部を材料検出部6とする一方、他端部を圧電素子7に固着する。そして粒子状材料を材料接触子2の材料検出部6に落下させた時の衝撃を圧電素子7により電圧に変換し、その電圧データを解析して予め作成されている粗粒率の相関データと照らし合わせて粒子状材料の粗粒率を推定する。
請求項（抜粋）：
細い棒状体により形成した材料接触子の所定位置を支点により支持し、該支点を中心に前記材料接触子を回動自在とし、該材料接触子の一端部を材料検出部とする一方、他端部を圧電素子に固着し、粒子状材料を材料接触子の材料検出部に落下させた時の衝撃を圧電素子により電圧に変換し、該電圧データから粒子状材料の粗粒率を推定するようにしたことを特徴とする簡易粗粒率測定器。
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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