特許
J-GLOBAL ID：200903099782637411
サンプルを分析する偏光解析ラマンシステム及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
中里 浩一
, 川崎 仁
, 滝口 昌司
, 三嶋 景治
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-550771
公開番号（公開出願番号）：特表2009-524035
出願日： 2007年01月19日
公開日（公表日）： 2009年06月25日
要約：
【課題】 サンプルの完全な偏光特性の決定を可能にする偏光解析ラマンシステム及び方法を提供すること。【解決手段】 本発明は入射光ビーム(2)を発する励起源(1)と、サンプル(4)を装着できるサンプルホルダ(3)と、入射光ビーム(2)をサンプル表面(16)上にフォーカスしてある強度を有するラマン散乱光を発生させる手段と、ラマン散乱光を集光してラマン散乱光ビーム(5)を形成する手段と、ラマン散乱光ビーム(5)の強度を時間の関数として測定する検出系(6)とを備えるサンプル(4)を分析するラマン法及びシステムに関する。発明によれば、それはラマン散乱光ビーム(5)の強度を検出して前記サンプル(4)の部分的又は完全なミューラー・ストークス行列を計算することを可能にするために、四つの独立な偏光状態を生成できる偏光状態生成器(PSG)(7)、又は四つの独立な偏光状態を分析できる偏光状態分析器(PSA)を少なくとも備え、入射光ビーム(2)はサンプル(4)により散乱される前に前記PSG(7)を通過し、ラマン散乱光ビーム(5)はサンプル(4)により散乱された後に前記PSG(8)を通過する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
入射光ビーム(2)を発し、所定の強度を有するラマン散乱光を生み出すように構成された励起源(1)と、
前記サンプル(4)を装着できるサンプルホルダ(3)と、
前記入射光ビーム(2)を前記サンプル表面(16)上にフォーカスして前記ラマン散乱光を発生させる手段と、
前記ラマン散乱光を集光し、それをレイリー散乱光と濾過分離してラマン散乱光ビーム(5)を形成する手段と、
前記ラマン散乱光ビーム(5)の強度を時間の関数として測定する検出系(6)と
を備えた、サンプル(4)を分析する偏光解析ラマンシステムであって、
前記ラマン散乱光ビーム(5)の前記強度を検出して前記サンプル(4)の部分的又は完全なミューラー・ストーク行列を計算することを可能にするために、四つの独立な偏光状態を生み出せる偏光状態生成器(PSG)(7)、又は四つの独立な偏光状態を分析できる偏光状態分析器(PSA)を少なくとも備え、前記入射光ビーム(2)は前記サンプル(4)により散乱される前に前記PSG(7)を通過し、前記ラマン散乱光ビーム(5)は前記サンプル(4)により散乱された後に前記PSG(8)を通過する
ことを特徴とする偏光解析ラマンシステム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
2G043AA03
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043FA03
, 2G043GA01
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA06
, 2G043HA07
, 2G043HA09
, 2G043HA15
, 2G043JA01
, 2G043KA09
, 2G043NA01
