特許
J-GLOBAL ID：200903099826564913

偏光フィルムの欠陥検査方法

発明者：
鈴木 孝志

鈴木 孝志 について


出願人/特許権者：
住友化学工業株式会社

住友化学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 西教 圭一郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-170301
公開番号（公開出願番号）：特開2001-349839
出願日： 2000年06月07日
公開日（公表日）： 2001年12月21日
要約：
【要約】【課題】 偏光フィルム内部の微小な欠陥の検出を容易にする。【解決手段】 偏光フィルム20に、下方の光源21からの光を入射させ、偏光フのィルム20を透過した光を、偏光板22または偏光板23を介して観察する。偏光板22,23は、偏光フィルム20内の偏光層24の偏光軸24aに対し、ほぼ直交している。積層構造の偏光フィルム20内部に存在する欠陥を観察すると、全体的に暗い視野に対して、上の異物26は明るく見え、下の異物25はより暗く見える。
請求項（抜粋）：
入射される光のうち予め定める偏光軸方向の偏光成分のみを選択的に透過させる偏光フィルムに、光源からの光を透過させ、該偏光フィルムを透過した光を、該偏光軸とほぼ直交する方向の偏光軸を有するように配置される偏光板に導き、該偏光板を透過した光を観察して、全体的な視野と明るさの異なる部分が存在するとき、該視野よりも明るければ該偏光フィルムの偏光特性を示す部分よりも観察側に存在する欠陥であり、該視野よりも暗ければ該偏光フィルムの偏光特性を示す部分よりも光源側に存在する欠陥であると判断することを特徴とする偏光フィルムの欠陥検査方法。
IPC (5件)：
G01N 21/88 ,  G01N 21/958 ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 510
FI (5件)：
G01N 21/88 H ,  G01N 21/958 ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 510
Fターム (38件)：
2G051AA90 ,  2G051AB06 ,  2G051AB20 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051CA11 ,  2G051CB02 ,  2G051CC07 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2H049BA02 ,  2H049BA26 ,  2H049BB03 ,  2H049BB33 ,  2H049BB43 ,  2H049BC01 ,  2H049BC03 ,  2H049BC22 ,  2H088FA13 ,  2H088FA18 ,  2H088FA24 ,  2H088FA30 ,  2H088HA18 ,  2H088MA16 ,  2H091FA08X ,  2H091FA08Z ,  2H091FB02 ,  2H091FB12 ,  2H091FC07 ,  2H091FC16 ,  2H091FC29 ,  2H091FC30 ,  2H091FD06 ,  2H091FD14 ,  2H091GA17 ,  2H091HA07 ,  2H091LA11 ,  2H091LA12
引用特許：
審査官引用 (3件)

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