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J-GLOBAL ID：201002207111644698   整理番号：10A0493389

陽電子プローブマイクロアナライザ(PPMA)を用いた純鉄試料の陽電子寿命イメージング測定

著者 (10件)： 窪田翔二 (筑波大) ,  渡邉宏理 (筑波大) ,  上殿明良 (筑波大) ,  大島永康 (産業技術総合研) ,  木野村淳 (産業技術総合研) ,  大平俊行 (産業技術総合研) ,  鈴木良一 (産業技術総合研) ,  藤浪真紀 (千葉大 大学院) ,  打越雅仁 (東北大 多元物質科研) ,  鈴木茂 (東北大 多元物質科研)
資料名： KURRI-KR (CD) (CD-ROM)  (KURRI-KR (CD) (CD-ROM))
号： 26  ページ： ROMBUNNO.19  発行年： 2009年 
JST資料番号： L5681A  ISSN： 1349-7960  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *鉄 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  寿命 ,  画像技術 ,  顕微鏡観察 ,  空間分解能 ,  高分解能 ,  圧延 ,  引張応力 ,  焼なまし ,  *格子欠陥 ,  時間分解能 ,  破断 ,  くびれ
準シソーラス用語： ネッキング ,  *陽電子プローブマイクロアナライザ ,  陽電子寿命

分類 (2件)： 金属の格子欠陥  (BK12030F) ,  電子・陽電子との相互作用一般  (BK16051U)

タイトルに関連する用語 (5件)： 陽電子プローブマイクロアナライザ ,  純鉄 ,  試料 ,  陽電子寿命 ,  イメージング