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J-GLOBAL ID:201002242532049918   整理番号:10A0197683

局所表面放電プラズマを適用したマスクレス・エッチング技法の適用

Examination of Maskless Etching Technique Using a Localized Surface Discharge Plasma
著者 (3件):
資料名:
巻:号:ページ: 115-117  発行年: 2010年01月 
JST資料番号: W1854A  ISSN: 1931-4973  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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最近,ガス放電生成非平衡(gas discharges producing nonequilibrium)プラズマ(大気圧で発生する)に関心が集まっている。その理由は個々の応用に対して,数多くの潜在的能力・可能性があるからである。特に,マスクレス・パターン・エッチングは,MEMSや太陽光セルのようなマイクロプロセスに対して効果的である。MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems)とは,微小電気機械素子およびその創製技術のことである。このエッジングは,Si基板上を覆うSiとSiNに対して行われる。局所的に表面放電(surface discharge)の生成に成功した。本論文は,単一結晶体(single crystalline)シリコン太陽光セルにおけるSiNフィルムの選択的エッチングに,開発したこの技術を適用した。
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分類 (4件):
分類
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集積回路一般  ,  半導体集積回路  ,  混成集積回路  ,  プラズマ一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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