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J-GLOBAL ID：201002253153942895   整理番号：10A0159061

8.表面・界面の分析・評価 8.2 プローブ顕微鏡

著者 (2件)： 珠玖仁 (東北大) ,  末永智一 (東北大)
資料名： 表面技術  (Journal of the Surface Finishing Society of Japan)
巻： 61  号： 2  ページ： 187-188  発行年： 2010年02月01日 
JST資料番号： G0441B  ISSN： 0915-1869  CODEN： HYGIEX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 創立60周年記念号「最近の技術の進歩」。走査プローブ顕微鏡(SPM)は精密位置決め装置と探針(プローブ)を組合せた表面分析ツールであり,走査型トンネル顕微鏡(STM)に端を発し,原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光学顕微鏡(SNOM)に至る。探針-試料間相互作用の理解が深まり,SPM研究分野も進展した。トピックスとしてAFMによる原子認識やビデオレートを越える走査速度の実現が挙げられる。走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)は,探針-試料間距離の制御により連続測定が可能になった。酸化還元電流など試料表面の反応性をイメージングするためのプローブ(微小電極)を搭載した走査型電気化学顕微鏡(SECM)は,反応活性をサブミクロンオーダの空間分解能で画像化できる。

シソーラス用語： *表面分析 ,  界面 ,  *表面構造 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  プローブ ,  位置決め装置 ,  精度 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  原子間力顕微鏡 ,  走査光学顕微鏡 ,  原子構造 ,  速度 ,  伝送速度 ,  連続計測 ,  微小電極 ,  マイクロプローブ ,  空間分解能 ,  画像技術
準シソーラス用語： 界面構造 ,  位置決め精度 ,  走査型近接場光学顕微鏡 ,  走査速度 ,  走査型イオン伝導顕微鏡 ,  走査型電気化学顕微鏡 ,  イメージング技術

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 界面 ,  分析 ,  評価 ,  プローブ顕微鏡