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J-GLOBAL ID：201002254810002675   整理番号：10A1010922

低温TEM観察における回折モード-デフォーカスイメージングによる自動試料探索

Automated specimen search in cryo-TEM observation with DIFF-defocus imaging

著者 (7件)： NAKAMURA Natsuko (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  SHIMIZU Yuko (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  SHINKAWA Takao (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  NAKATA Munetaka (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  BAMMES Benjamin (Baylor Coll. Medicine, TX, USA) ,  ZHANG Junjie (Baylor Coll. Medicine, TX, USA) ,  CHIU Wah (Baylor Coll. Medicine, TX, USA)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 59  号： 4  ページ： 299-310  発行年： 2010年08月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 生体試料の低温TEM観察には電子線の低照射量と迅速な処理が必...

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,...
準シソーラス用語： *デフォーカス ,...

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分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低温 ,  TEM観察 ,  回折 ,  試料 ,  探索