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J-GLOBAL ID：201002258249347930   整理番号：10A0666422

光吸収分光法による単層カーボンナノチューブの精密な特性評価におけるバックグランド分析の基本的な重要性

Fundamental Importance of Background Analysis in Precise Characterization of Single-Walled Carbon Nanotubes by Optical Absorption Spectroscopy

著者 (8件)： OHMORI Shigekazu (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  SAITO Takeshi (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  SAITO Takeshi (JST-PRESTO, Saitama, JPN) ,  TANGE Masayoshi (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  SHUKLA Bikau (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  OKAZAKI Toshiya (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  YUMURA Motoo (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  IIJIMA Sumio (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 114  号： 22  ページ： 10077-10081  発行年： 2010年06月10日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 間隔遠心分離および差スペクトル(IC-DS)技術により脱束化単層カーボンナノチューブ(SWCNT)の程度に基づくSWCNTの光学吸収スペクトルの変化を研究した。バックグランド消光の線形状を用いた基底線補正によって,完全に脱束化されたSWCNTの光学吸収スペクトルの詳細な特徴が明らかとなった。さらなる基底線補正なしで多重Lorentz線を用いることによって,得られた脱束化SWCNTの吸収スペクトル曲線がうまくフィッティングされ,半導体および金属キラリティの最も確かな候補の矛盾がない割当てが導かれた。割当てられた半導体キラリティが光ルミネセンス(PL)マッピングの結果と一致することが確認され,大きな度合いの確実性で光学吸収分光法によるSWCNTの特性評価に対して割当ての妥当性だけでなく,バックグランド消光を分析することの基本的な重要性も支持された。

シソーラス用語： *光吸収スペクトル ,  *単層カーボンナノチューブ ,  バックグラウンド ,  差スペクトル ,  遠心分離 ,  *補正 ,  Lorentz型線形 ,  光ルミネセンス ,  消光 ,  光学異性 ,  スペクトル線形
準シソーラス用語： *バックグラウンド修正

分類 (2件)： 炭素とその化合物  (YB02060D) ,  無機化合物のルミネセンス  (BM08093J)

タイトルに関連する用語 (6件)： 光吸収分光法 ,  単層カーボンナノチューブ ,  特性評価 ,  バックグランド ,  分析 ,  重要性