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J-GLOBAL ID:201002260235791280   整理番号:10A0874999

ナノスケールの4端子抵抗測定における量子干渉効果の理論研究

Theoretical Study of Quantum Interference Effects on Nanoscale Four-probe Measurements
著者 (5件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 374-379 (J-STAGE)  発行年: 2010年 
JST資料番号: F0940B  ISSN: 0388-5321  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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ナノ構造体の電気伝導特性を明らかにする試みは理論および実験的に行われており,なかでも接触抵抗に影響されない4端子法が注目されている。しかし,ナノ構造体の4端子抵抗は古典的モデルから予想できない挙動,例えば測定結果に試料本来の伝導性に加えて試料-プローブ間の多重反射が引き起こす干渉効果などが含まれることがある。本論文では4端子抵抗スペクトルに現われる振動のピーク間隔の入射エネルギー依存性である「ピーク間隔スペクトル」を導入した。密度汎関数強束縛法とグリーン関数に基く数値計算から得られた4端子抵抗のピーク間隔スペクトルと,電子波の間の位相差がその行路のみから決まるとした単純な干渉モデルから予測されるピーク間隔スペクトルを比較した結果,試料-プローブの接点における散乱の際の位相シフトの効果がピーク間隔のずれとしてスペクトルに現われることが分った。さらにこの効果とは別にプローブ先端の共鳴に由来する特異なディップ構造がピーク間隔スペクトルに現われることを明らかにし,共鳴状態の観測の可能性を見出した。
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分類 (2件):
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電子輸送の一般理論  ,  数値計算 
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