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J-GLOBAL ID：201002275526729457   整理番号：10A1063553

最近の研究と技術 Delta型新球面収差補正装置

著者 (16件)： 沢田英敬 (JST-CREST) ,  沢田英敬 (日本電子) ,  佐々木健夫 (JST-CREST) ,  佐々木健夫 (日本電子) ,  湯浅修一 (日本電子) ,  寺尾光央 (日本電子) ,  川添宗之 (日本電子) ,  中道智寛 (日本電子) ,  細川史生 (日本電子) ,  金山俊克 (JST-CREST) ,  金山俊克 (日本電子) ,  近藤行人 (日本電子) ,  木本浩司 (JST-CREST) ,  木本浩司 (物質・材料研究機構) ,  末永和知 (JST-CREST) ,  末永和知 (産業技術総合研 ナノチューブ応用研究セ)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 45  号： 3  ページ： 193-197  発行年： 2010年09月30日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 生体分子と有機分子の1分子,1原子スケールでの局所領域の構造解析を行うために,原子分解能の機能を持ち,電子線によるダメージによる構造変化が低減できる高分解能低加速電子顕微鏡を開発した。本報告は,その電子顕微鏡に付加した新型球面収差補正装置の原理と,実験結果について述べたものである。新型補正装置は三段12極子構造であり,高次収差が補正可能な装置である。

シソーラス用語： *収差補正 ,  装置 ,  *構造 ,  *構造解析 ,  *電子顕微鏡観察 ,  収差
準シソーラス用語： *球面収差補正 ,  *局所構造 ,  高次収差

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (16件)：

• 1)http://www.busshitu.jst.go.jp/kadai/year03/team03.html
• 2)Suenaga, K., Sato, Y., Liu, Z., Kataura, H., Okazaki, T., Kimoto, K., Sawada, H., Sasaki, T., Omoto, K., Tomita, T., Kaneyama, T. and Kondo. Y.: Nature chemistry, 1, 415-418 (2009)
• 3)Sawada, H., Sasaki, T., Hosokawa, F., Yuasa, S., Terao, M., Kawazoe, M., Nakamichi, T., Kaneyama, T., Kondo, Y., Kimoto, K. and Suenaga, K.: J. Electron Microsc., 58, 341-347 (2009)
• 4)Sasaki, T., Sawada, H., Hosokawa, F., Kohno, Y., Tomita, T., Kaneyama, T., Kondo, Y., Kimoto, K., Sato, Y. and Suenaga, K.: J. Electron Microsc., 59, S7-S13 (2010)
• 5)Beck, V.: Optik, 53, 241-255 (1979)

タイトルに関連する用語 (3件)： 研究 ,  Delta ,  球面収差補正