文献

J-GLOBAL ID：201002283070436358   整理番号：10A0937247

サブミリストリップのRPCにおける誘導電荷分布の測定

Measurements of Induced Charge Profile in RPC With Submilli-Strips

著者 (7件)： NARITA S. (Iwate Univ., Morioka, JPN) ,  SHOJI M. (Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN) ,  HOSHI Y. (Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN) ,  MIURA D. (Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN) ,  KIKUCHI Y. (Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN) ,  NEICHI K. (Tohoku Gakuin Univ., Sendai, JPN) ,  YAMAGUCHI A. (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 57  号： 4,Pt.2  ページ： 2210-2214  発行年： 2010年08月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *放射線検出器 ,  板ガラス ,  電荷 ,  空間分布 ,  ストリーマ ,  電子なだれ ,  混合気体 ,  アルゴン ,  フッ化硫黄 ,  FWHM ,  電気回路 ,  フロン ,  アルカン ,  フロート硝子
準シソーラス用語： *レジスティブプレートチェンバ ,  読出し回路

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

物質索引 (2件)： HFC-134a ,  ブタン

タイトルに関連する用語 (2件)： RPC ,  分布