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J-GLOBAL ID：201002288971287612   整理番号：10A0346737

集束イオンビーム誘起堆積により作製したPtフィールドエミッタから放出された電子により誘起された電子波干渉

Electron wave interference induced by electrons emitted from Pt field emitter fabricated by focused-ion-beam-induced deposition

著者 (4件)： MURAKAMI K. (Center for Quantum Sci. and Technol. under Extreme Conditions, Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka ...) ,  MATSUO T. (Graduate School of Engineering Sci., Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 560-8531, JPN) ,  WAKAYA F. (Center for Quantum Sci. and Technol. under Extreme Conditions, Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka ...) ,  TAKAI M. (Center for Quantum Sci. and Technol. under Extreme Conditions, Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka ...)
資料名： Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena  (Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻： 28  号： 2  ページ： C2A9  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： E0974A  ISSN： 2166-2746  CODEN： JVTBD9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 集束イオンビーム誘起堆積(FIBID)により作製したPtフィールドエミッタから放出される縞状電子放出パターンを,電界放出顕微鏡及びその場電界イオン顕微鏡(FIM)により研究した。電子放出サイトをもつFIM画像は,Ptナノ結晶の直径内に隣り合う二つの放出サイトを示した。これらの結果は,FIBIDにより作製したPtフィールドエミッタの縞状電子放出パターンの起源が,Ptナノ結晶内の隣り合う二つの電子放出サイトから放出される電子により誘起された電子波干渉であることを示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *白金 ,  金属薄膜 ,  イオンビーム蒸着 ,  *電子放出 ,  電界放出顕微鏡 ,  電界イオン顕微鏡 ,  ナノ結晶 ,  干渉
準シソーラス用語： *フィールドエミッタ ,  集束イオンビーム蒸着 ,  *縞状構造 ,  電子波干渉

分類 (3件)： 熱電子放出,電界放出  (BM09020S) ,  その他の固体デバイス  (NC03150A) ,  金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (10件)： 集束イオンビーム ,  誘起 ,  堆積 ,  作製 ,  Pt ,  フィールドエミッタ ,  放出 ,  電子 ,  電子波 ,  干渉