特許
J-GLOBAL ID：201003001950945705
有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、および電子機器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
上柳 雅誉
, 須澤 修
, 宮坂 一彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-000594
公開番号（公開出願番号）：特開2010-160906
出願日： 2009年01月06日
公開日（公表日）： 2010年07月22日
要約：
【課題】有機EL素子が水分その他の成分で劣化することをより確実に防止することができる有機EL、有機EL装置の製造方法、および当該有機EL装置を備えた電子機器を提案すること。【解決手段】有機EL装置100およびその製造方法では、第1無機封止膜61と第2無機封止膜63との間では、下層側の光硬化性樹脂緩衝膜621と、上層側の熱硬化性樹脂緩衝膜622とが積層されている。熱硬化性樹脂緩衝膜622は、平坦化能力に優れているため、第2無機封止膜63にはクラックやピンホールが発生しない。また、光硬化性樹脂緩衝膜621を形成する際、加熱という工程がないため、光硬化性樹脂の有機成分が第1無機封止膜61のクラックやピンホールを介して侵入することがない。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
素子基板上に、
第1電極層、有機機能層、および第2電極層が積層された有機エレクトロルミネッセンス素子と、
該有機エレクトロルミネッセンス素子を覆う第1無機封止膜と、
該第1無機封止膜を覆う光硬化性樹脂緩衝膜と、
該光硬化性樹脂緩衝膜を覆う熱硬化性樹脂緩衝膜と、
該熱硬化性樹脂緩衝膜を覆う第2無機封止膜と、
を有していることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス装置。
IPC (3件)：
H05B 33/04
, H01L 51/50
, H05B 33/10
H05B33/04
, H05B33/14 A
, H05B33/10
3K107AA01
, 3K107BB01
, 3K107CC23
, 3K107CC27
, 3K107CC45
, 3K107EE48
, 3K107EE49
, 3K107EE50
, 3K107FF03
, 3K107GG06
, 3K107GG28
