特許

J-GLOBAL ID：201003008034730463

自動分析装置

発明者： 秋元 薫 ,  七字 優
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-235849
公開番号（公開出願番号）：特開2010-071647
出願日： 2008年09月16日
公開日（公表日）： 2010年04月02日
要約：

【課題】 アラーム,エラーが発生しても、その原因を後日解析することができる機能を備えた自動分析装置を提供すること。【解決手段】 検体削除後も保存したい測定結果を、測定前に条件を設定することにより選択、または測定後に条件を設定することにより選択、または測定後に任意に選択する選択手段と、前選択手段により選択された測定結果と測定に関連する情報を抽出する抽出手段と、前抽出手段により抽出された各情報を記憶する記憶手段と、前記憶手段により記憶された情報を表示する表示手段と、前表示手段により表示された情報を任意な情報により検索する検索手段と、前記憶手段により記憶された情報を出力する出力手段を備えた自動分析装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

アラーム,項目,検体番号,測定日の少なくともいずれかを選択する選択手段と、 該選択手段により選択された情報に対応する測定結果を記憶する記憶手段と、 該記憶手段に記憶された前記測定結果は、通常の測定結果消去では消去されないよう保護されていることを特徴とする自動分析装置。

IPC (1件)：

G01N 35/00

FI (1件)：

G01N35/00 A

Fターム (3件)：

2G058AA05 ,  2G058GD07 ,  2G058GE00

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 自動分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-298984   出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立サイエンスシステムズ

審査官引用 (2件)

• 自動分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-234856   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ, 株式会社日立ハイテクサイエンスシステムズ
• 分析装置の測定データ管理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-341464   出願人：株式会社島津製作所