特許
J-GLOBAL ID：200903085879011494

自動分析装置

発明者：
高橋 健一

高橋 健一 について

, 
林 正美

林 正美 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について

, 
株式会社日立ハイテクサイエンスシステムズ

株式会社日立ハイテクサイエンスシステムズ について


代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-234856
公開番号（公開出願番号）：特開2008-058129
出願日： 2006年08月31日
公開日（公表日）： 2008年03月13日
要約：
【課題】分注機構により試料、試薬を分注し撹拌機構により撹拌した後、分光光度計により吸光度を測定する自動分析装置において、測定結果に異常が認められた場合に、測定異常の原因を究明するために必要な情報の収集を容易に入手できるようにする。【解決手段】測定結果に対してその該当する項目に関する分析情報、すなわち試料番号あるいはID番号情報、測定日時情報、測定項目の試料量、試薬量、測定波長等の分析条件情報、試薬分注順序情報、攪拌俸攪拌順序情報、使用した反応容器の番号とその使用来歴情報、反応過程吸光度情報、使用した試薬の試薬情報、キャリブレーション情報、精度管理情報、アラーム情報を一画面で確認することができる分析情報画面を有する自動分析装置。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
少なくとも、測定項目の分析条件情報、試薬分注順序情報、攪拌順序情報、使用した反応容器の番号情報、反応容器の使用来歴情報、反応過程吸光度情報、使用した試薬の試薬情報、キャリブレーション情報、アラーム情報のうちから、表示する情報を選択する選択手段と、 該選択手段により選択された情報を試料番号あるいはID番号をキー情報として測定結果毎に同一画面上に表示する表示手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N 35/02 ,  G01N 35/00
FI (5件)：
G01N35/02 C ,  G01N35/02 D ,  G01N35/00 A ,  G01N35/00 C ,  G01N35/00 Z
Fターム (4件)：
2G058GC05 ,  2G058GD02 ,  2G058GE01 ,  2G058HA00
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-255439   出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立サイエンスシステムズ
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-298984   出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立サイエンスシステムズ
審査官引用 (4件)
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