特許
J-GLOBAL ID:201003017336143183
GaN結晶の成長方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (7件):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
, 荒川 伸夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-252791
公開番号(公開出願番号):特開2010-042976
出願日: 2008年09月30日
公開日(公表日): 2010年02月25日
要約:
【課題】融液に原料以外の不純物を添加することなく、また、結晶成長装置を大型化することなく、転位密度が低く結晶性が高いGaN結晶の成長方法を提供する。【解決手段】本GaN結晶の成長方法は、一主面10mを有するGaxAlyIn1-x-yN種結晶10aを含む基板を準備する工程と、基板10の主面10mにGa融液3への窒素の溶解5がされた溶液7を接触させて、800°C以上1500°C以下の雰囲気温度および500気圧以上2000気圧未満の雰囲気圧力下で、主面10m上にGaN結晶20を成長させる工程と、を備える。また、基板10を準備する工程の後、GaN結晶20を成長させる工程の前に、基板10の主面10mをエッチングする工程を、さらに備える。【選択図】図2
請求項(抜粋):
一主面を有するGaxAlyIn1-x-yN(0<x、0≦y、x+y≦1)種結晶を含む基板を準備する工程と、
前記基板の前記主面に、Ga融液に窒素を溶解させた溶液を接触させて、800°C以上1500°C以下の雰囲気温度および500気圧以上2000気圧未満の雰囲気圧力下で、前記主面上にGaN結晶を成長させる工程と、を備えるGaN結晶の成長方法。
IPC (4件):
C30B 29/38
, H01L 21/208
, C30B 9/10
, H01L 33/32
FI (4件):
C30B29/38 D
, H01L21/208 D
, C30B9/10
, H01L33/00 C
Fターム (22件):
4G077AA02
, 4G077BE15
, 4G077CD05
, 4G077EA01
, 4G077EA04
, 4G077ED04
, 4G077ED05
, 4G077ED06
, 4G077EE02
, 4G077HA02
, 4G077HA12
, 4G077MB12
, 4G077MB35
, 5F041CA05
, 5F041CA40
, 5F041CA65
, 5F053AA03
, 5F053AA22
, 5F053DD00
, 5F053GG01
, 5F053HH01
, 5F053RR13
引用特許:
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