特許
J-GLOBAL ID：201003017681702594
赤外線光学系の評価装置及びその評価方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
竹村 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-085191
公開番号（公開出願番号）：特開2010-237029
出願日： 2009年03月31日
公開日（公表日）： 2010年10月21日
要約：
【課題】 安価で簡易な構成で赤外線レンズの近赤外線領域における結像性能を可視化することにより、赤外線レンズの広範囲な赤外領域における光学系の結像性能を客観的に評価可能な評価装置及び方法を提供する。【解決手段】 評価装置は光源4と、赤外線光学系評価用の標準パターンが形成されたテストパターン5と、光源光が照射された前記テストパターンのパターン像を結像する赤外線レンズ10と、結像されたパターン像を検知する画像センサ6とを有する。結像されたパターン像と標準パターンとを比較して赤外線レンズを評価する。パターン像はモニタ7のディスプレイ上に表示される。遠赤外線領域の画像評価は近赤外線領域の画像評価から予測する。評価装置がレンズを支持固定する鏡筒内への反射・散乱光の影響を観察評価する場合、鏡筒内に入射される視野外からの反射・散乱光を可視化された近赤外線領域の画像から得る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光源と、赤外線光学系評価用の標準パターンが形成されたテストパターンと、前記光源によって照射された前記テストパターンのパターン像を結像する赤外線レンズと、結像された前記パターン像を検知する画像センサとを具備し、前記結像されたパターン像と前記標準パターンとを比較して赤外線光学系を評価することを特徴とする赤外線光学系評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
2G086HH05
, 2G086HH06
, 2G086HH07
