特許
J-GLOBAL ID：201003018542462720
静電容量センサモジュールの検査方法及びその検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-251082
公開番号（公開出願番号）：特開2010-086026
出願日： 2008年09月29日
公開日（公表日）： 2010年04月15日
要約：
【課題】 静電容量方式タッチセンサの主構成部分である静電容量センサモジュールについて、手間と人手がかからず、また検査毎に判定にばらつきが生じない検査方法及びその検査装置を提供する。【解決手段】 絶縁基板に複数の検査電極が形成され、静電容量センサモジュールである被検査試料の入力側の面に載置されて当該被検査試料2のセンサ電極に前記検査電極が一定の間隔を開けて対向する検査治具3と、前記検査電極を任意の固定電位に1つ又は数個ごとに順次自動的に切り替える切替手段7と、前記電位の切り替えごとに前記被検査試料にて検知された前記検査治具との間の静電容量の変化値と基準とする静電容量の変化値との差を算出し、当該差が所定の数値を超える場合には、前記被検査試料を不良品と判定する判定手段8と、前記判定手段による判定結果を知らせる報知手段9と、を備えた静電容量センサモジュールの検査装置1。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
人間の指が近づくことにより微弱な静電容量の変化をとらえて位置検出する静電容量センサモジュールの良否を検査するための方法であって、
絶縁基板に複数の検査電極が形成された検査治具を前記静電容量センサモジュールである被検査試料の入力側の面に載置して当該被検査試料のセンサ電極に前記検査電極を一定の間隔を開けて対向させるステップと、
前記検査電極を任意の固定電位に1つ又は数個ごとに順次自動的に切り替えるステップと、
前記電位の切り替えごとに前記被検査試料にて前記検査治具との間の静電容量の変化値を検知するステップと、
検知された前記検査治具との間の静電容量の変化値と基準とする静電容量の変化値との差を算出し、当該差が所定の数値を超える場合には、前記被検査試料を不良品と判定するステップと、
前記判定結果を知らせるステップと、
を含むことを特徴とする静電容量センサモジュールの検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
5B087AA04
, 5B087AD00
, 5B087BB20
, 5B087BC19
, 5B087CC12
出願人引用 (1件)
審査官引用 (7件)
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