特許
J-GLOBAL ID：201003021190982037

放射性ガスモニタ

発明者：
茂木 健一

茂木 健一 について

, 
潮見 大志

潮見 大志 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (4件)： 大岩 増雄 ,  児玉 俊英 ,  竹中 岑生 ,  村上 啓吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-325161
公開番号（公開出願番号）：特開2010-145319
出願日： 2008年12月22日
公開日（公表日）： 2010年07月01日
要約：
【課題】点検用線源を照射中はテストモードとなり、テストモード中は放射線検出器の連続測定が中断した、いわゆる欠測となっていた。【解決手段】放射線を検出する検出部1と、検出部1の出力に基づき測定する測定部2を備え、検出部1は、試料容器4と、放射線検出器3、試料容器4の突出部4aに設けた線源キャップ5と、線源キャップ5の下方側に位置する診断用線源6を備え、診断用線源6は線源キャップ5の照射窓5aを通して放射線検出器3に診断用放射線を照射し、測定部2は検出部1の出力の波高スペクトルのピーク位置を監視することにより、システムゲインの健全性を確認するようにしたものである。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象のサンプルガス中に含まれるガス状放射性物質から放出される放射線を検出して電圧パルスを出力する検出部と、前記検出部から入力された前記電圧パルスに基づいて前記放射線を測定する測定部とを備えた放射性ガスモニタにおいて、 前記検出部は、前記測定対象のサンプルガスが流出入するとともに底部に空間部を有する突出部が形成された試料容器と、前記試料容器内のサンプルガス中に含まれるガス状放射性物質から放出される放射線を半導体センサーで検出し、前記半導体センサーから出力される電流パルス信号を電圧パルス信号に変換して出力する放射線検出器と、前記試料容器の突出部に取り付けられ照射窓を有する線源キャップと、前記線源キャップの下方側に配置された診断用線源と、前記放射線検出器と前記試料容器とを内包して固定すると共に環境放射線から遮蔽する遮蔽体とを備え、 前記診断用線源は、前記線源キャップの照射窓を通して前記放射線検出器に診断用放射線を照射するとともに前記診断用放射線のスペクトルピーク位置が測定領域のエネルギーより低くなるように核種が選定され、 前記測定部は、前記検出部から入力された前記電圧パルスの波高スペクトルを測定して前記診断用線源の波高スペクトルのピーク位置を監視することにより、システムゲインの健全性を確認するようにしたこと を特徴とする放射性ガスモニタ。
IPC (3件)：
G01T 1/167 ,  G01T 1/24 ,  G01T 7/00
FI (3件)：
G01T1/167 B ,  G01T1/24 ,  G01T7/00 C
Fターム (12件)：
2G088EE12 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ29 ,  2G088KK01 ,  2G088KK07 ,  2G088KK13 ,  2G088LL11 ,  2G088LL28 ,  2G088MM09
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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