特許
J-GLOBAL ID：201003021663561921

3次元計測装置およびその方法

発明者：
大西 康裕

大西 康裕 について

, 
諏訪 正樹

諏訪 正樹 について

, 
庄 沱

庄 沱 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (3件)： 世良 和信 ,  和久田 純一 ,  中村 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-239114
公開番号（公開出願番号）：特開2010-071782
出願日： 2008年09月18日
公開日（公表日）： 2010年04月02日
要約：
【課題】カメラの位置や特性の違いによる影響を受けずに、かつ、精度良く鏡面物体の3次元形状を測定する。【解決手段】鏡面物体である計測対象物の3次元形状を計測する3次元計測装置であって、複数のカメラと、撮影された画像のそれぞれから計測対象物の表面の物理特徴である法線の向きを取得する特徴取得手段と、この物理特徴を用いて画像間で対応する画素を探索する対応画素探索手段と、対応する画素間の視差に基づいて3次元測量を行う測量手段と、を備える。なお、各画像における法線の向きを共通の座標系に変換する座標変換手段を有することが好適である。この座標変換のパラメータはカメラキャリブレーションの際に得られるパラメータから算出することができる。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
鏡面物体である計測対象物の3次元形状を計測する3次元計測装置であって、 複数のカメラと、 前記複数のカメラによって撮影された画像のそれぞれから、前記計測対象物の表面の物理特徴を取得する特徴取得手段と、 前記物理特徴を用いて、前記複数のカメラによって撮影された画像間で対応する画素を探索する対応画素探索手段と、 対応する画素間の視差に基づいて、3次元測量を行う測量手段と、 を備えることを特徴とする3次元計測装置。
IPC (1件)：
G01B 11/245
FI (1件)：
G01B11/245 H
Fターム (23件)：
2F065AA06 ,  2F065AA35 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB07 ,  2F065BB25 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065FF42 ,  2F065GG23 ,  2F065GG24 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065LL22 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ38 ,  2F065UU05
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 特開昭61-198015号公報
審査官引用 (4件)
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