特許
J-GLOBAL ID:201003037502900690

基板の表面に樹脂絶縁膜のパターンを形成する方法及び半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  島田 哲郎 ,  大橋 康史 ,  篠崎 正海
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-237509
公開番号(公開出願番号):特開2010-251695
出願日: 2009年10月14日
公開日(公表日): 2010年11月04日
要約:
【課題】基板の表面に樹脂絶縁膜のパターンを切削加工で形成する方法及び半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置の製造方法において、接続用の電極(2)が一主面に形成された半導体基板(1)において、前記接続用の電極(2)を覆うように前記一主面側に樹脂絶縁膜(3)を形成する第1工程と、すくい角をゼロ又は負とした、バイト(4)による切削加工により、前記接続用の電極(2)の接続部位(21)を露出させるように、テーパ部(10)と前記接続部位(21)とからなる開孔(31)を形成する第2工程とを具備することを特徴とする。【選択図】図6
請求項(抜粋):
接続用の電極(2)が一主面に形成された半導体基板(1)において、前記接続用の電極(2)を覆うように前記一主面側に樹脂絶縁膜(3)を形成する第1工程と、 すくい角をゼロ又は負とした、バイト(4)による切削加工により、前記接続用の電極(2)の接続部位(21)を露出させるように、テーパ部(10)と前記接続部位(21)とからなる開孔(31)を形成する第2工程とを具備することを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (4件):
H01L 21/768 ,  H01L 21/320 ,  H01L 23/52 ,  B23D 1/00
FI (3件):
H01L21/90 A ,  H01L21/88 T ,  B23D1/00
Fターム (29件):
3C050AB07 ,  3C050AD00 ,  5F033HH07 ,  5F033HH08 ,  5F033HH12 ,  5F033HH13 ,  5F033HH14 ,  5F033HH15 ,  5F033HH16 ,  5F033HH17 ,  5F033HH18 ,  5F033HH19 ,  5F033HH21 ,  5F033JJ01 ,  5F033KK08 ,  5F033MM08 ,  5F033NN32 ,  5F033PP27 ,  5F033PP28 ,  5F033QQ00 ,  5F033QQ09 ,  5F033QQ37 ,  5F033QQ41 ,  5F033QQ47 ,  5F033RR21 ,  5F033RR22 ,  5F033VV07 ,  5F033WW00 ,  5F033XX14
引用特許:
審査官引用 (5件)
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