特許
J-GLOBAL ID:201003037502900690
基板の表面に樹脂絶縁膜のパターンを形成する方法及び半導体装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (5件):
青木 篤
, 鶴田 準一
, 島田 哲郎
, 大橋 康史
, 篠崎 正海
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-237509
公開番号(公開出願番号):特開2010-251695
出願日: 2009年10月14日
公開日(公表日): 2010年11月04日
要約:
【課題】基板の表面に樹脂絶縁膜のパターンを切削加工で形成する方法及び半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置の製造方法において、接続用の電極(2)が一主面に形成された半導体基板(1)において、前記接続用の電極(2)を覆うように前記一主面側に樹脂絶縁膜(3)を形成する第1工程と、すくい角をゼロ又は負とした、バイト(4)による切削加工により、前記接続用の電極(2)の接続部位(21)を露出させるように、テーパ部(10)と前記接続部位(21)とからなる開孔(31)を形成する第2工程とを具備することを特徴とする。【選択図】図6
請求項(抜粋):
接続用の電極(2)が一主面に形成された半導体基板(1)において、前記接続用の電極(2)を覆うように前記一主面側に樹脂絶縁膜(3)を形成する第1工程と、
すくい角をゼロ又は負とした、バイト(4)による切削加工により、前記接続用の電極(2)の接続部位(21)を露出させるように、テーパ部(10)と前記接続部位(21)とからなる開孔(31)を形成する第2工程とを具備することを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (4件):
H01L 21/768
, H01L 21/320
, H01L 23/52
, B23D 1/00
FI (3件):
H01L21/90 A
, H01L21/88 T
, B23D1/00
Fターム (29件):
3C050AB07
, 3C050AD00
, 5F033HH07
, 5F033HH08
, 5F033HH12
, 5F033HH13
, 5F033HH14
, 5F033HH15
, 5F033HH16
, 5F033HH17
, 5F033HH18
, 5F033HH19
, 5F033HH21
, 5F033JJ01
, 5F033KK08
, 5F033MM08
, 5F033NN32
, 5F033PP27
, 5F033PP28
, 5F033QQ00
, 5F033QQ09
, 5F033QQ37
, 5F033QQ41
, 5F033QQ47
, 5F033RR21
, 5F033RR22
, 5F033VV07
, 5F033WW00
, 5F033XX14
引用特許:
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