特許
J-GLOBAL ID：201003040375444664

3次元形状計測用撮影装置および方法並びにプログラム

発明者：
増田 智紀

増田 智紀 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (3件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛 ,  福尾 勲将
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-263386
公開番号（公開出願番号）：特開2010-091492
出願日： 2008年10月10日
公開日（公表日）： 2010年04月22日
要約：
【課題】被写体にパターン光を照射することにより取得した画像を用いて、被写体の3次元形状を正確に計測する。【解決手段】第1のカメラ2により被写体のプレ画像を取得し、演算部5がプレ画像上に複数の領域からなる照射範囲を設定する。さらに、照射範囲内の領域毎にパターン光照射の有無を判定する。次いで、第1および第2のカメラ2,3によりパターン光を照射しない撮影およびパターン光を照射する撮影を行い、非照射基準画像G1および照射基準画像G1′、並びに非照射参照画像G2および照射参照画像G2′を取得する。これらの画像の画像データから画像ファイルを生成し、画像ファイルのヘッダに照射範囲内の各領域におけるパターン光照射の有無の情報を記述する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための複数の計測用画像からなる計測用画像群を取得する複数の撮影手段と、 前記撮影手段による画角の範囲内にパターン光を照射する照射手段と、 前記被写体のプレ画像を取得するよう、または前記パターン光が非照射の前記被写体の複数の第1の計測用画像からなる第1の計測用画像群を取得するよう、前記複数の撮影手段を制御する撮影制御手段と、 前記プレ画像または少なくとも1つの前記第1の計測用画像上に複数の領域を設定し、該領域毎に前記パターン光照射の有無を判定する判定手段とを備えたことを特徴とする3次元形状計測用撮影装置。
IPC (5件)：
G01B 11/24 ,  G01C 3/06 ,  G01B 11/25 ,  G01B 11/245 ,  G06T 1/00
FI (7件)：
G01B11/24 K ,  G01C3/06 110B ,  G01C3/06 140 ,  G01B11/25 H ,  G01B11/245 H ,  G06T1/00 315 ,  G06T1/00 430G
Fターム (46件)：
2F065AA53 ,  2F065DD04 ,  2F065EE05 ,  2F065EE08 ,  2F065FF07 ,  2F065GG07 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL21 ,  2F065NN02 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR09 ,  2F112AC06 ,  2F112CA08 ,  2F112DA19 ,  2F112DA26 ,  2F112EA20 ,  2F112FA21 ,  2F112FA35 ,  2F112FA38 ,  2F112GA01 ,  5B047AA07 ,  5B047BA08 ,  5B047BB04 ,  5B047BC12 ,  5B047BC23 ,  5B047CA04 ,  5B047CA19 ,  5B047CB09 ,  5B047CB22 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CE08 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5B057DC32
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (2件)

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