特許
J-GLOBAL ID:201003041403335848
ポジ型レジスト組成物及びレジストパターン形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 鈴木 三義
, 五十嵐 光永
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-178437
公開番号(公開出願番号):特開2010-217855
出願日: 2009年07月30日
公開日(公表日): 2010年09月30日
要約:
【課題】レジスト材料の溶解性に優れたポジ型レジスト組成物、及び当該ポジ型レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法の提供。【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)と、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)とを、沸点150°C以上のアルコール系有機溶剤を含有する有機溶剤(S)に溶解してなるポジ型レジスト組成物;第一のレジストパターンが形成された支持体上に、前記ポジ型レジスト組成物を塗布して第二のレジスト膜を形成する工程と、前記第二のレジスト膜を選択的に露光し、アルカリ現像してレジストパターンを形成する工程とを含むレジストパターン形成方法。【選択図】なし
請求項(抜粋):
酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)と、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)とを有機溶剤(S)に溶解してなるポジ型レジスト組成物であって、
前記有機溶剤(S)は、沸点150°C以上のアルコール系有機溶剤を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
IPC (4件):
G03F 7/004
, G03F 7/039
, G03F 7/40
, C08F 220/18
FI (4件):
G03F7/004 501
, G03F7/039 601
, G03F7/40 511
, C08F220/18
Fターム (46件):
2H096AA25
, 2H096BA11
, 2H096EA05
, 2H096GA08
, 2H096KA03
, 2H096KA06
, 2H096KA13
, 2H125AF18P
, 2H125AF22P
, 2H125AF36P
, 2H125AF38P
, 2H125AF39P
, 2H125AF45P
, 2H125AH16
, 2H125AH17
, 2H125AH19
, 2H125AJ14X
, 2H125AJ18X
, 2H125AJ64X
, 2H125AJ65X
, 2H125AJ68X
, 2H125AJ69X
, 2H125AN02P
, 2H125AN11P
, 2H125AN21P
, 2H125AN63P
, 2H125AN64P
, 2H125BA26P
, 2H125CA12
, 2H125CB09
, 2H125CC03
, 2H125CC15
, 2H125FA03
, 2H125FA18
, 4J100AL08P
, 4J100AL08Q
, 4J100BA02P
, 4J100BA20P
, 4J100BC09P
, 4J100BC53Q
, 4J100CA03
, 4J100CA05
, 4J100CA06
, 4J100FA03
, 4J100FA19
, 4J100JA38
引用特許:
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