特許
J-GLOBAL ID：201003047795912765

電源回路の異常診断装置、及び電源回路

発明者：
市川 和博

市川 和博 について

, 
大橋 豊

大橋 豊 について


出願人/特許権者：
株式会社デンソー

株式会社デンソー について


代理人 (4件)： 山田 強 ,  栗田 恭成 ,  日野 京子 ,  安藤 悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-286696
公開番号（公開出願番号）：特開2010-111311
出願日： 2008年11月07日
公開日（公表日）： 2010年05月20日
要約：
【課題】Hブリッジ回路20及び電源リレー40間の電気経路と接地との間に接続されるコンデンサ42をプリチャージするプリチャージ経路を備える電源回路を用いる場合、電源リレー40の閉固着異常の有無を診断することが困難なこと。【解決手段】イグニッションスイッチ50が開操作された後、スイッチング素子60をオフ操作することで、電源リレー40を開操作する。これにより、電源リレー40に閉固着異常が生じていないなら、コンデンサ42の充電電圧VPcは低下する。これに対し、電源リレー40に閉固着異常が生じているなら、コンデンサ42の充電電圧が低下しない。マイコン30では、こうした点に鑑み、電源リレー40の閉固着異常の有無を診断する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
電力変換回路及び給電手段間を開閉する電源リレーと、前記電力変換回路及び前記電源リレー間の電気経路と接地との間に接続されるキャパシタと、前記電源リレーを迂回して前記キャパシタをプリチャージするプリチャージ経路と、該プリチャージ経路及び前記給電手段間を開閉する開閉手段とを備える電源回路に適用され、前記電源リレーの異常の有無を診断する電源回路の異常診断装置において、 前記開閉手段及び前記電源リレーの双方が開操作された後の前記キャパシタの充電電圧の低下の有無に基づき、前記電源リレーの閉固着異常の有無を診断する閉固着異常診断手段を備えることを特徴とする電源回路の異常診断装置。
IPC (1件)：
B60R 16/02
FI (1件)：
B60R16/02 650R
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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