特許
J-GLOBAL ID:201003056592336393

変位計測装置、及び変位計測システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 牛木 護 ,  吉田 正義 ,  今枝 弘充 ,  梅村 裕明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-043798
公開番号(公開出願番号):特開2010-197282
出願日: 2009年02月26日
公開日(公表日): 2010年09月09日
要約:
【課題】簡易な構成で三方向の変位を計測することができる変位計測装置、及び変位計測システムを提供する。【解決手段】変位計測装置1は、基体としての床2と、当該床2に対向して形成された変位検出対象物としての建物の天井3とで構成される層4間に設置されている。これにより、変位計測装置1は、例えば地震等の災害によって、天井3の水平方向H及び鉛直方向zへの変位を、第1光線L1及び第2光線L2の受光位置のずれに基づいて検出し得るように構成されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基体と、前記基体に対し所定間隔を隔てて設けられた変位検出対象物とを備える層における、前記変位検出対象物の前記基体に対する相対的な変位を計測する変位計測装置であって、 前記層間の一方向に向かって第1光線を出射する第1照射光源と、 前記層間の他方向に向かって第2光線を出射し、当該第2光線が前記層間を一往復するように設けられた第2照射光源と、 前記第1光線及び前記層間を一往復した前記第2光線を受光して前記変位検出対象物の変位を計測する変位検出部と を備えることを特徴とする請求項1記載の変位計測装置。
IPC (2件):
G01C 15/00 ,  G01B 11/00
FI (5件):
G01C15/00 103D ,  G01C15/00 103B ,  G01C15/00 103Z ,  G01B11/00 B ,  G01B11/00 C
Fターム (18件):
2F065AA06 ,  2F065AA09 ,  2F065AA19 ,  2F065AA35 ,  2F065AA65 ,  2F065BB01 ,  2F065CC00 ,  2F065FF09 ,  2F065GG06 ,  2F065GG07 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ16 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ22 ,  2F065LL22 ,  2F065NN08 ,  2F065SS13 ,  2F065SS15
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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