特許
J-GLOBAL ID：201003060906752335
飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
, 小林 良平
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-540841
公開番号（公開出願番号）：特表2010-512632
出願日： 2007年12月07日
公開日（公表日）： 2010年04月22日
要約：
飛行時間型質量分析装置(1)が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス(10)と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス(10)の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。
請求項（抜粋）：
試料イオンを供給するイオン源と、
前記イオン源によって供給された試料イオンを受容する、長手軸を有する分割線形イオン蓄積デバイスと、
前記デバイスに、
(i)該デバイスの二以上の互いに隣接したセグメントグループの捕捉領域を含む軸方向伸張領域において試料イオン又は該試料イオンに由来するイオンを、冷却ガスの助力を受けて捕捉し、次いで、前記軸方向伸張領域に捕捉されたイオンを該軸方向伸張領域の該軸方向伸張領域よりも短い引出領域に捕捉させてイオン雲を形成させるのに有効な捕捉電圧と、
(ii)前記引出領域から、前記デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に該イオン雲が排出されるようにする引出電圧と、
を供給する電圧供給手段と、
該引出領域より排出されたイオンの質量分析を行う飛行時間型質量分析器と、
を備えた飛行時間型質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J 49/06
, H01J 49/42
, H01J 49/40
, G01N 27/62
H01J49/06
, H01J49/42
, H01J49/40
, G01N27/62 K
2G041CA01
, 2G041GA03
, 2G041GA08
, 2G041KA01
, 5C038FF07
, 5C038FF13
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
