特許

J-GLOBAL ID：201003068261263750

回路基板検査装置および回路基板検査方法

発明者： 山嵜 浩
出願人/特許権者： 日置電機株式会社
代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-099554
公開番号（公開出願番号）：特開2010-249664
出願日： 2009年04月16日
公開日（公表日）： 2010年11月04日
要約：

【課題】数多くの導体パターンを有する回路基板に対する検査の効率を向上させ得る回路基板検査装置を提供する。【解決手段】回路基板100の一面に形成された導体パターンP1,P2の導通状態および導体パターンP1,P2の間の絶縁状態を検査する検査部と、検査用の電圧信号Svを出力する電源部12を備え、検査部は、導体パターンP1に電圧信号Svが供給されている状態において、導体パターンP1と回路基板100の他面側に配設された電極板2bとの間の静電容量に基づいて導体パターンP1の導通状態を検査すると共に、導体パターンP1,P2の間に流れる電流の電流値に基づいて導体パターンP1,P2の間の絶縁状態を検査する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

一面に複数の導体パターンが形成された回路基板における当該各導体パターンの導通状態および当該各導体パターンの間の絶縁状態を検査する検査部を備えた回路基板検査装置であって、 検査用の電圧信号を出力する電源部を備え、 前記検査部は、1つの前記導体パターンに前記電圧信号が供給されている状態において、前記回路基板の他面側に配設された電極、前記回路基板の他面のパターン、および当該回路基板の内層のパターンのいずれか1つと、前記1つの導体パターンとの間の静電容量に基づいて当該1つの導体パターンの導通状態を検査すると共に、前記1つの導体パターンと他の1つの前記導体パターンとの間に流れる電流の電流値に基づいて当該両導体パターンの間の絶縁状態を検査する回路基板検査装置。

IPC (2件)：

G01R 31/02 ,  H05K 3/00

FI (2件)：

G01R31/02 ,  H05K3/00 T

Fターム (5件)：

2G014AA02 ,  2G014AA03 ,  2G014AA13 ,  2G014AB59 ,  2G014AC09

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 回路基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-151278   出願人：日置電機株式会社
• 検査装置および検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-014497   出願人：日置電機株式会社