特許
J-GLOBAL ID：200903014747399740

検査装置および検査方法

発明者：
小池 伸一

小池 伸一 について


出願人/特許権者：
日置電機株式会社

日置電機株式会社 について


代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-014497
公開番号（公開出願番号）：特開2007-198758
出願日： 2006年01月24日
公開日（公表日）： 2007年08月09日
要約：
【課題】検査効率を向上し得る検査装置を提供する。【解決手段】交流信号および直流信号を足し合わせた検査用信号Stを導体パターン101に供給する電源部2と、検査用信号St内の交流信号の供給に起因して導体パターン101を流れる交流電流Iaの値に基づいて導体パターン101に対する導通検査を実行すると共に、検査用信号St内の直流信号の供給に起因して導体パターン101を流れる直流電流Idの値に基づいて導体パターン101に対する絶縁検査を実行する演算制御部7とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
交流信号および直流信号を足し合わせた検査用信号を検査対象体に供給する電源部と、前記検査用信号内の前記交流信号の供給に起因して前記検査対象体を流れる交流電流の値に基づいて前記検査対象体に対する導通検査を実行する導通検査部と、前記検査用信号内の前記直流信号の供給に起因して前記検査対象体を流れる直流電流の値に基づいて前記検査対象体に対する絶縁検査を実行する絶縁検査部とを備えている検査装置。
IPC (2件)：
G01R 31/02 ,  H05K 3/00
FI (2件)：
G01R31/02 ,  H05K3/00 T
Fターム (4件)：
2G014AA01 ,  2G014AA15 ,  2G014AB59 ,  2G014AC18
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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