特許
J-GLOBAL ID：201003070852669882

シワ評価方法、シワ評価装置、シワ評価プログラム、及び該プログラムが記録された記録媒体

発明者：
原 祐輔

原 祐輔 について

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大栗 基樹

大栗 基樹 について

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舛田 勇二

舛田 勇二 について


出願人/特許権者：
株式会社資生堂

株式会社資生堂 について


代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-293143
公開番号（公開出願番号）：特開2010-119431
出願日： 2008年11月17日
公開日（公表日）： 2010年06月03日
要約：
【課題】肌状態の多角的な解析、評価を高精度に行う。【解決手段】被験者の全顔又は局部顔が撮影された画像を用いて、設定された対象領域における肌状態を解析してシワを評価するシワ評価方法において、前記対象領域におけるシワ毎の位置情報及び大きさ情報を含むシワ情報を抽出するシワ抽出手順と、前記シワ抽出手順により得られるシワ情報について、前記被験者により過去に抽出された同一部分に存在する複数のシワ情報のうち、少なくとも1つを用いてシワを評価するシワ評価手順と、前記シワ評価手順により得られた評価結果を表示させる画面を生成する表示画面生成手順と、前記表示画面生成手順により生成された情報を出力する出力手順とを有することにより上記課題を解決する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
被験者の全顔又は局部顔が撮影された画像を用いて、設定された対象領域における肌状態を解析してシワを評価するシワ評価方法において、 前記対象領域におけるシワ毎の位置情報及び大きさ情報を含むシワ情報を抽出するシワ抽出手順と、 前記シワ抽出手順により得られるシワ情報について、前記被験者により過去に抽出された同一部分に存在する複数のシワ情報のうち、少なくとも1つを用いてシワを評価するシワ評価手順と、 前記シワ評価手順により得られた評価結果を表示させる画面を生成する表示画面生成手順と、 前記表示画面生成手順により生成された情報を出力する出力手順とを有することを特徴とするシワ評価方法。
IPC (1件)：
A61B 5/107
FI (1件)：
A61B5/10 300Q
Fターム (3件)：
4C038VA04 ,  4C038VB03 ,  4C038VC05
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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