特許
J-GLOBAL ID：201003076144623153
抵抗測定装置及び回路基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-158964
公開番号（公開出願番号）：特開2010-002199
出願日： 2008年06月18日
公開日（公表日）： 2010年01月07日
要約：
【課題】抵抗値を短時間で測定可能とした抵抗測定装置及び回路基板検査装置を提供する。【解決手段】四端子法を用いた抵抗測定装置において、スルーホール111に第1の直流電流を供給する第1の電流源210と、スルーホール111に発生する第1の電圧を測定する第1の電圧計310と、スルーホール112に第2の直流電流を供給する第2の電流源220と、スルーホール112に発生する第2の電圧を測定する第2の電圧計320と、第1の直流電流及び第1の電圧からスルーホール111の抵抗値を算出し、第2の直流電流及び第2の電圧からスルーホール112の抵抗値を算出する手段と、を備え、第1の電路201と第2の電路202とを近接して並置し、これらの電路201,202に、互いに逆極性で同じ大きさの第1,第2の直流電流を同時に通流させる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象物の抵抗値を四端子法により測定する抵抗測定装置において、
第1の測定対象物に第1の直流電流を供給する第1の電流供給手段と、
第1の直流電流を供給した時に第1の測定対象物に発生する第1の電圧を測定する第1の電圧測定手段と、
第2の測定対象物に第2の直流電流を供給する第2の電流供給手段と、
第2の直流電流を供給した時に第2の測定対象物に発生する第2の電圧を測定する第2の電圧測定手段と、
第1の直流電流及び第1の電圧から第1の測定対象物の抵抗値を算出する手段と、
第2の直流電流及び第2の電圧から第2の測定対象物の抵抗値を算出する手段と、
を備え、
第1の直流電流が流れる第1の電路と第2の直流電流が流れる第2の電路とを並置し、これら第1,第2の電路に、互いに逆極性で大きさが等しい第1,第2の直流電流を同時に通流させることを特徴とする抵抗測定装置。
IPC (3件)：
G01R 27/02
, G01R 31/02
, H05K 3/00
G01R27/02 R
, G01R31/02
, H05K3/00 U
2G014AA02
, 2G014AA13
, 2G014AB59
, 2G014AC14
, 2G028AA02
, 2G028BC01
, 2G028BE10
, 2G028BF10
, 2G028CG02
, 2G028DH03
, 2G028DH13
, 2G028FK01
, 2G028HN11
, 2G028HN13
, 2G028MS03
