特許
J-GLOBAL ID:201003076650356961
n型SiC単結晶の製造方法、それによって得られるn型SiC単結晶およびその用途
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
青木 篤
, 石田 敬
, 古賀 哲次
, 関根 宣夫
, 堂垣 泰雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-036905
公開番号(公開出願番号):特開2010-189235
出願日: 2009年02月19日
公開日(公表日): 2010年09月02日
要約:
【課題】窒素(N)の量を少なくしても比抵抗の小さいn型SiC単結晶を製造する方法、前記の方法によって得られる比抵抗が小さいSiC単結晶およびその用途を提供する。【解決手段】SiC単結晶を結晶成長する際に、n型半導体とするためのドナー元素である窒素(N)とともにガリウム(Ga)を、両元素のatm単位で表示して量であるN(量)およびGa(量)がN(量)>Ga(量)となるようにする。特にSiCに対する窒素(N)およびガリウム(Ga)のatm%単位で表示した各々の添加割合であるNADおよびGaADが、0<NAD≦1.0atm%、0<GaAD≦0.06atm%である割合で添加して結晶成長させることにより、比低抗率が小さく、例えば比低抗率が0.01Ωcm以下、その中でも0.008Ωcm以下のn型SiC単結晶を得ることができる。【選択図】なし
請求項(抜粋):
SiC単結晶を結晶成長する際に、n型半導体とするためのドナー元素である窒素(N)とともにガリウム(Ga)を、両元素のatm単位で表示して量であるN(量)およびGa(量)がN(量)>Ga(量)となるように添加することを特徴とするn型SiC単結晶の製造方法。
IPC (3件):
C30B 29/36
, C30B 19/04
, H01L 21/208
FI (3件):
C30B29/36 A
, C30B19/04
, H01L21/208 D
Fターム (43件):
4G077AA02
, 4G077AB06
, 4G077BE08
, 4G077CG01
, 4G077CG07
, 4G077DA02
, 4G077DA18
, 4G077EA06
, 4G077EB01
, 4G077EC08
, 4G077HA06
, 4G077HA12
, 4G077QA01
, 4G077QA12
, 4G077QA27
, 4G077QA34
, 4G077SA01
, 4G077SA04
, 4G077SA06
, 5F045AA18
, 5F045AB06
, 5F045AC15
, 5F045AC16
, 5F045AD18
, 5F045AE01
, 5F045AF02
, 5F045BB16
, 5F045CA05
, 5F045DA66
, 5F045DP05
, 5F045DQ01
, 5F053AA03
, 5F053AA48
, 5F053BB04
, 5F053BB57
, 5F053DD02
, 5F053FF01
, 5F053GG01
, 5F053HH02
, 5F053JJ03
, 5F053KK10
, 5F053LL10
, 5F053RR20
引用特許:
審査官引用 (2件)
-
液晶表示装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-113202
出願人:セイコーエプソン株式会社
-
炭化珪素単結晶の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-355098
出願人:トヨタ自動車株式会社
引用文献:
前のページに戻る