特許
J-GLOBAL ID：201003080748282149
表面増強ラマン分光測定方法及び本方法を用いた表面増強ラマン分光装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
岩橋 文雄
, 内藤 浩樹
, 永野 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-002303
公開番号（公開出願番号）：特開2010-160043
出願日： 2009年01月08日
公開日（公表日）： 2010年07月22日
要約：
【課題】被検溶液に屈折率変動が存在する場合でも、測定が安定させることができ、また、測定感度が低下することを防止することで、高精度に被検物質の濃度が測定することができる表面増強ラマン分光方法および装置を提供する。【解決手段】被検物質を金属微粒子105aが形成されたセル105に供給し、前記セル105に複数の波長を含む光を照射し、前記セル105を透過、または、散乱、または、反射した光を分光し、分光された光を検出し、前記セル105にて発生した局在化表面プラズモン共鳴波長を算出する。得られた局在化表面プラズモン共鳴波長に基づき、前記セル105に入射させる光の波長を前記局在化表面プラズモン共鳴波長付近に制御し、発生した表面増強ラマン散乱光を検出する。検出された表面増強ラマン散乱光を分析することにより、被検成分濃度を高精度に算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被検物質の濃度を表面増強ラマン分光法により測定する方法であって、
a) 被検物質を金属微粒子が形成されたセルに供給する工程
b) 前記セルに複数の波長を含む光を照射する工程
c) 前記セルを透過、または、散乱、または、反射した光を分光し、分光された光を検出する工程
d) 工程c)により得られた結果から前記セルにて発生した局在化表面プラズモン共鳴波長を算出する工程
e) 工程d)で得られた局在化表面プラズモン共鳴波長に基づき、前記セルに入射させる光の波長を前記局在化表面プラズモン共鳴波長付近に制御する工程
f) 発生した表面増強ラマン散乱光を検出する工程
g) 工程f)により検出された表面増強ラマン散乱光から被検物質濃度を算出する工程
を含む表面増強ラマン分光測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA06
, 2G043EA03
, 2G043EA04
, 2G043HA01
, 2G043JA03
, 2G043JA04
, 2G043KA02
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA06
