特許
J-GLOBAL ID：201003089562422452
金属微粒子を用いた質量分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-125259
公開番号（公開出願番号）：特開2010-185886
出願日： 2010年05月31日
公開日（公表日）： 2010年08月26日
要約：
【課題】本発明の課題は、金属に結合した自己組織化膜表面上での化学反応を高感度かつ正確に解析でき、将来の糖鎖構造解析に応用できる新しい質量分析法を提供することにある。【解決手段】本発明によれば、金属が硫黄原子を介して有機残基と結合した金属-有機残基複合体から該硫黄原子を含む有機残基誘導体をイオン化することを特徴とする、該硫黄原子を含む有機残基誘導体を質量分析する方法、が提供される。このことにより、上記課題が解決される。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
一般式(II):
R-SH (II)
(式中、Rは有機残基であり、Sは硫黄原子である)で表される化合物もしくはその塩;
一般式(III):
R-S-S-R (III)
(式中、RおよびSは前記と同意義である)で表される化合物もしくはその塩;
一般式(V):
HS-X-CH(R)-SH (V)
(式中、RおよびSは前記と同意義であり、Xは低級アルキレンまたは低級アルケニレン
である)で表される化合物もしくはその塩;
一般式(VI):
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
2G041CA01
, 2G041DA03
, 2G041FA10
, 2G041JA09
