特許
J-GLOBAL ID:201003092480920862
物理量制御装置、物理量制御方法及び物理量制御プログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
杉村 憲司
, 英 貢
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-168548
公開番号(公開出願番号):特開2010-257436
出願日: 2009年07月17日
公開日(公表日): 2010年11月11日
要約:
【課題】ザゼンソウ型制御アルゴリズムと、従来の汎用制御アルゴリズムとを融合させ、広範囲な制御対象に対して適応した物理量制御アルゴリズムを提供する。【解決手段】温度制御装置は、遅延器1、温度センサー3、第1のザゼンソウ型制御部、第2のPID制御部11、エネルギー発生器4,ヒーター5、混合器21を備え、第1のザゼンソウ型制御部は現在温度と前回温度との時間変化勾配をパラメータとし、第2のPID制御部11は現在温度と目標温度との差をパラメータとし、第1のザゼンソウ型制御部と第2のPID制御部11が並列に接続されることを特徴とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
フィードバック制御によって制御対象の物理量を目標値に制御する物理量制御装置であって、
所定の制御周期毎に物理量センサーによって測定された制御対象の各物理量から決定される第1の操作量を演算する第1の制御部と、
前記測定された制御対象の物理量と前記目標値とから決定される第2の操作量を演算する第2の制御部と、
演算された前記第1の操作量と前記第2の操作量とを並列処理して第3の操作量を決定する混合器と、
前記第3の操作量に応じて前記制御対象の物理量を前記目標値に制御する物理量制御部と、
を備えることを特徴とする物理量制御装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G05B13/02 B
, G05D23/19 J
Fターム (22件):
5H004GA02
, 5H004GA04
, 5H004HA01
, 5H004HB01
, 5H004JA03
, 5H004KA65
, 5H004KA69
, 5H004KB02
, 5H004KB04
, 5H004KB06
, 5H004KC48
, 5H004KC52
, 5H004KC54
, 5H323BB01
, 5H323BB03
, 5H323CA08
, 5H323CB02
, 5H323CB04
, 5H323EE02
, 5H323KK05
, 5H323LL01
, 5H323LL02
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開平2-098701
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特開平3-123902
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制御システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-114671
出願人:株式会社東芝
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