特許
J-GLOBAL ID：201003099253553718
光画像計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人三澤特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-109607
公開番号（公開出願番号）：特開2010-256294
出願日： 2009年04月28日
公開日（公表日）： 2010年11月11日
要約：
【課題】アイソレータを用いなくても光源の故障を防止でき、また、光学的に画質向上を図ることが可能な光画像計測装置を提供する。【解決手段】ファイバカプラ162は低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割する。信号光路には、信号光LSを被検眼Eに向けて導き、被検眼Eからの信号光LSをファイバカプラ162に導く光ファイバ165と、この信号光LSをファイバカプラ167に導く光ファイバ166が設けられる。参照光路には、参照光LRを導く光ファイバ163と、参照光LRを2回反射させるコーナーキューブ173と、参照光LRをファイバカプラ167に導く光ファイバ164と、画質向上のための分散補償部材172及び偏光補正部材174が設けられる。ファイバカプラ167は、信号光LSと参照光LRとの干渉光LCを生成する。干渉光LCの検出結果を基に断層像が形成される。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光を出力する光源と、
前記出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、信号光路を介して被測定物体を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記生成された干渉光を検出して検出信号を生成する光学系と、
前記生成された検出信号に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置であって、
前記光学系は、
前記光源から出力された低コヒーレンス光を導光する第1の光ファイバと、前記導光された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する第1のファイバカプラと、第2のファイバカプラとを含むとともに、
前記信号光路として、前記第1のファイバカプラに一端が接続され、前記信号光を前記被測定物体に向けて導光するとともに前記被測定物体を経由した信号光を前記第1のファイバカプラに導光する第2の光ファイバと、前記第2の光ファイバにより前記第1のファイバカプラに導光された信号光を前記第2のファイバカプラに導光する第3の光ファイバとを含み、
前記参照光路として、前記第1のファイバカプラに一端が接続され、前記参照光を導光する第4の光ファイバと、前記第4の光ファイバの他端から出射された参照光を複数回反射させる反射手段と、前記反射手段を経由した参照光を前記第2のファイバカプラに導光する第5の光ファイバと、前記第4の光ファイバと前記第5の光ファイバとの間の光路上に設けられ、前記参照光の分散特性を調整する分散調整手段及び/又は前記参照光の偏光状態を調整する偏光調整手段とを含み、
前記第2のファイバカプラは、前記第3の光ファイバにより導光された信号光と前記第5の光ファイバにより導光された参照光とを重畳させて干渉光を生成する、
ことを特徴とする光画像計測装置。
IPC (4件)：
G01N 21/17
, A61B 3/12
, A61B 3/14
, A61B 3/10
G01N21/17 630
, A61B3/12 E
, A61B3/14 A
, A61B3/10 R
2G059AA05
, 2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE11
, 2G059FF01
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ07
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059MM14
出願人引用 (16件)
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審査官引用 (9件)
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