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J-GLOBAL ID：201102205051176945   整理番号：11A1417553

放射光STMによるナノスケール表面元素分析~金属-半導体界面の元素コントラスト評価~

著者 (17件)： 大関豪三 (大阪大 大学院) ,  大関豪三 (理研/SPring-8) ,  齋藤彰 (大阪大 大学院) ,  齋藤彰 (理研/SPring-8) ,  松野浩之 (大阪大 大学院) ,  松野浩之 (理研/SPring-8) ,  野津浩史 (大阪大 大学院) ,  野津浩史 (理研/SPring-8) ,  高木康多 (理研/SPring-8) ,  高木康多 (岡崎国立共同研究機構 分子科研) ,  田中義人 (理研/SPring-8) ,  香村芳樹 (理研/SPring-8) ,  赤井恵 (大阪大 大学院) ,  石川哲也 (理研/SPring-8) ,  桑原裕司 (大阪大 大学院) ,  桑原裕司 (理研/SPring-8) ,  青野正和 (物質・材料研究機構)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 66  号： 2 第4分冊  ページ： 939  発行年： 2011年08月24日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： シンクロトロン放射 ,  *X線照射 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  *元素分析 ,  *表面分析 ,  コントラスト ,  *界面 ,  *ゲルマニウム ,  *銅

分類 (1件)： 無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H)

タイトルに関連する用語 (8件)： 放射光 ,  STM ,  ナノスケール ,  元素分析 ,  金属-半導体界面 ,  元素 ,  コントラスト ,  評価