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J-GLOBAL ID:201102224538945779   整理番号:11A1882515

CTAB/GaAsヘテロ構造の電気的特性

Electrical property of CTAB/GaAs hetero-structures
著者 (3件):
資料名:
巻: 111  号: 236(OME2011 48-57)  ページ: 31-35  発行年: 2011年10月07日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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我々は有機材料によるp-nホモ接合を実現することを目的とし,界面活性剤であるCetyl Trimethyl Ammonium Bromide:CTABと,不純物にヨウ化カリウム:KIを用いて試料を作製した。これまで,抵抗率,温度依存性・光導電性などの測定を行い,半導体的性質の有無を検討してきた。また,CTAB試料でホモp-n接合試料を作製し,ダイオード特性が得られた。今回,CTAB試料がp型,n型に作り分けられているかを確認するために,p-C16TAB/n-GaAsとn-C16TAB/p-GaAsの2種類のヘテロ接合試料を作製した。作製した試料のI-V特性と整流特性を測定し,特性評価を行った。また,ヘテロ接合試料のバンド構造の検討を行い,電子親和力が約2.6eVであると推定できた。(著者抄録)
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