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J-GLOBAL ID：201102229825642479   整理番号：11A1134597

単電子インバータに対するパラメータ変動の影響

著者 (1件)： 大豆生田利章 (群馬工高専)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 C  (IEICE Transactions on Electronics (Japanese Edition))
巻： J94-C  号： 7  ページ： 184-192  発行年： 2011年07月01日 
JST資料番号： S0623C  ISSN： 1345-2827  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 相補型単電子インバータに対する回路の構成要素のパラメータ変動の影響を回路シミュレーションにより解析した。解析対象は入力が安定した状態における平均出力に対するパラメータ変動の影響であり,遷移状態は解析対象としていない。一つのパラメータのみが変動する場合は,単電子トランジスタに用いられるコンデンサの静電容量が小さすぎるときは出力が固定され,大きすぎるときは出力が不安定になる。コンデンサの静電容量の精確さの許容範囲は設計値に対して25%以内である。複数のパラメータが変動する場合は,すべてのパラメータがガウス分布に従って変動するものとして解析した。ガウス分布の分散が増加するとローレベルの入力に対する出力は減少し,ハイレベルの入力に対する出力は増加する。分散の許容限界は0.2と見積もられる。パラメータ変動の影響の大部分はコンデンサの静電容量の変動の影響であり,トンネル接合のパラメータの変動は平均出力にはほとんど影響しない。分散がここで示した許容限界であれば,多段接続した論理回路の動作にも影響は出ない。(著者抄録)

シソーラス用語： *インバータ ,  *単一電子トンネル効果 ,  変動 ,  *回路シミュレーション ,  *単一電子トランジスタ ,  *論理回路 ,  *信頼性解析 ,  静電容量 ,  トンネル接合 ,  パラメータ変動
準シソーラス用語： *単一電子論理回路

分類 (2件)： 電力変換器  (NB08030B) ,  伝送回路理論  (NA02020X)

引用文献 (5件)：

• J. R. Tucker, “Complementary digital logic based on the “Coulomb blockade”,” J. Appl. Phys., vol.72, no.9, pp. 4399-4413, Nov.1992.
• 大豆生田利章, “単一電子論理回路における新しいタイプの故障,”信学論 (D-I), vol. J88-D-I, no.5, pp. 949-957, May 2005.
• 桑村信博, 谷口研二, 浜口智尋, “単一電子論理回路のシミュレーション,”信学論 (C-II), vol. J77-C-II, no.5, pp. 221-228, May 1994.
• 米田友洋, 梶原誠司, 土屋達弘, デイペンダブルシステム, 第5章, 共立出版, 2005.
• P. K. Lala, Digital Circuit Testing and Testability, chap. 1, Academic Press, 1997.

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子 ,  インバータ ,  パラメータ変動