被覆粒子の形態特性化および被覆厚測定の補助手段としてのX線マイクロトモグラフィーおよび画像分析

PERFETTI Giacomo; VAN DE CASTEELE Elke; RIEGER Bernd; WILDEBOER Willem J.; MEESTERS Gabrie M.H.; MEESTERS Gabrie M.H.

文献

J-GLOBAL ID：201102241323469676 整理番号：11A0163535

被覆粒子の形態特性化および被覆厚測定の補助手段としてのX線マイクロトモグラフィーおよび画像分析

X-ray micro tomography and image analysis as complementary methods for morphological characterization and coating thickness measurement of coated particles

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資料名：
巻： 21 号： 6 ページ： 663-675 発行年： 2010年11月
JST資料番号： W0255A ISSN： 0921-8831 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

本研究で,モデル系としてポリマ被覆の安息香酸ナトリウムおよび微結晶セルロース粒子を用いて,X線マイクロトモグラフィーを被覆層の密度,空隙率,表面/体積比率,および厚さの決定に使用した。X線マイクロトモグラフィーは粒子内および表面の亀裂損傷を可視化し明確に同定定量し,表面密度,空隙率および被覆厚のようなパラメータを計算するのに優れたツールであることが示された。被覆殻の構造特性(固体表面-体積比率),表面密度,細孔数,そして被覆粒子の対応する体積,占有とパーセント空隙率および被覆厚を,2Dおよび3D法を分析に用いて,種々のレベルで決定した。

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固体の製造・処理一般

引用文献 (40件)：

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