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J-GLOBAL ID:201102274915748603   整理番号:11A0128433

偏光光学系蛍光X線分析装置を用いるコーヒー豆の微量元素分析及び産地判別への適用

Determination of Trace Elements in Coffee Beans by XRF Spectrometer Equipped with Polarization Optics and Its Application to Identification of Their Production Area
著者 (5件):
資料名:
巻: 59  号: 10  ページ: 863-871 (J-STAGE)  発行年: 2010年 
JST資料番号: F0008A  ISSN: 0525-1931  CODEN: BNSKAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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実験室レベルで高感度な分析が可能な三次元偏光光学系蛍光X線分析装置を用いて,コーヒー豆の微量元素を定量し,統計解析を行った.産地判別に有用な元素を明らかにし,簡易・迅速な産地判別法として確立することを目指した.産地の指標となる6元素(Mn,Fe,Ni,Rb,Sr,Ba)を高感度に分析するために測定条件を最適化した結果,各元素において直線性のよい検量線を作成することができ,各元素の検出限界は,サブppmレベルとなった.コーヒー生豆75試料中の6元素を定量し,主成分分析を行った結果,6産地(ブラジル,コロンビア,ベトナム,インドネシア,タンザニア,グアテマラ)の生豆を特性化することができた.また,同ロットの生豆と焙煎豆の各元素濃度を比較した結果,これらの6元素について大きな差は見られなかったため,今回の産地判別手法における焙煎の影響は小さいことが分かった.本手法では,試料の前処理は10分程度,測定時間は2時間30分であり,自動連続測定が可能であることから,簡易・迅速な実用性の高い分析手法として,コーヒー豆の産地判別への応用が更に期待される.(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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有機物質中の元素の物理分析  ,  アルカロイドし好飲料 

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